它主要的功能就是針對半導體元件進行檢測，這里面說的半導體元件指的是集成電路，分立器件，光電器件，傳感器等元件以及封裝的測試。通過探針臺配合測量儀器可完成集成電路的電壓，電流，電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。可以適用于對芯片進行科研分析，抽查檢測等；可以保證這些半導體元件的質(zhì)量，縮短研發(fā)時間和器件制作工藝的成本，所以，它的存在對于制造半導體的企業(yè)來說是非常重要的。

　　

　　MPI探針臺使用方式：

　　1、將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。

　　2、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。

　　3、顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測點，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測點在顯微鏡視場中心。

　　4、待測點位置確認好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測點的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測點,此時動作要小心且緩慢，以防動作過大誤傷芯片，當探針針尖懸空于被測點上空時，可先用Y軸旋鈕將探針前進少許，再使用Z軸旋鈕進行下針，最后則使用X軸旋鈕左右滑動，觀察是否有少許劃痕，證明是否已經(jīng)接觸。

　　5、確保針尖和被測點接觸良好后，則可以通過連接的測試設(shè)備開始測試。