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失效分析設備

封裝工藝檢測設備 ESD測試設備

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ESD測試機的原理及應用芯片ESD測試儀是保障電子設備穩定運行的關鍵 ESD測試設備是靜電放電抗擾度與電磁輻射抗擾度測試的利器 ESD測試設備是什么原理 ESD測試介紹該如何進行ESD測試設備的試驗？

詳細介紹

ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機

HED-W5000M

晶圓ESD測試機

l 價格適中的多功能手動晶圓級測試儀。

l 專用軟件可用于泄漏測量和判斷。

l 適用于大多數類型的手動探針臺。

Wafer ESD 測試機系列

Wafer ESD 測試機產品系列

此設備是可以在Wafer level上進行HBM,MM測試的設備

產品名/型號	設備說明	設備介紹視頻
HED-W5100D	全自動 Wafer ESD測試機從LED到系統LSI的大口徑Wafer，可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后，可根據漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關聯性的TLP測試設備進行組合測試對ESD測試中發生問題的器件，能有效取得保護電路中的工作參數是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。（滿足JEITA/ESDA/JEDEC規格）	click
HED-W5000M	高性能半自動Wafer level ESD測試機通過操作探針座，可以輕松地決定兩個管腳之間的位置在印加脈沖后，可以通過漏電流測試判斷pass/fail。
HED-W5000M-SP0	Low Cost Wafer ESD Tester 低成本、高性能可通過開放控制軟件構建廣泛應用程序
HED-W5000M-WFC	Wafer level ESD測試機在對集成電路中保護電路工作參數的收集與分析上，雖然TLP測試機起到了很大的作用，但是在半導體制程細微化的發展中，為了提高對ESD的抵抗性，保護電路需要更快的研發速度 HED-W5000M-WFC測試機，因其可以觀測到被印加到器件上的實際的ESD波形，所以有助于收集、分析保護電路參數以及縮短研發速度

HED-W5000M 晶圓ESD測試機

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HED-W5000M 晶圓ESD測試機

Wafer ESD 測試機系列

Wafer ESD 測試機產品系列

HED-W5100D

全自動 Wafer ESD測試機

HED-W5000M

高性能半自動Wafer level ESD測試機

HED-W5000M-SP0

Low Cost Wafer ESD Tester

HED-W5000M-WFC

Wafer level ESD測試機

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