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掃描電鏡擁有高品質成像和先進分析功能的場發射掃描電子顯微鏡 Sigma 系列
Sigma 系列產品將場發射掃描電子顯微鏡技術與良好的用戶體驗緊密地結合在一起。
掃描電鏡利用 Sigma 直觀的 4 步工作流程,可輕松實現構建成像和分析程序,提高工 作效率。您可以在更短的時間內采集到更多數據。Sigma 可以搭載多種探測器, 以滿足不同應用需求:顆粒物、表面結構、納米結構、薄膜、涂層及多層膜等樣品成像。
Sigma 300 具有非常高的性價比;
Sigma 500 因其出色的 EDS 幾何學設計,擁有出眾的分析性能。
在單個探測器中獲取形貌和成分襯度信息。使用 aBSD 在 5 kV 和高真空條件下對太陽能電池成像,左:成分襯度模式,右: 形貌模式。 | 高效直觀的 Sigma 4 步工作流程。 | 先進的 EDS 幾何學設計加速了 X 射線的分析。 |
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