全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備

簡(jiǎn)要描述：Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備
近年來(lái)，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前先進(jìn)技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動(dòng)駕駛芯片的可靠性，保障汽車運(yùn)行中的安全。目前國(guó)內(nèi)尚未有關(guān)于汽車芯片可靠性的標(biāo)準(zhǔn)，而是基于國(guó)際AEC-Q100系列標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行汽車芯片可靠性測(cè)試，其中一環(huán)節(jié)就是要對(duì)汽車芯片進(jìn)行CDM和HBM的靜電相關(guān)測(cè)試。

產(chǎn)品型號(hào)：HED-G5000
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-11-07
訪問(wèn) 量：2417

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失效分析設(shè)備

封裝工藝檢測(cè)設(shè)備 ESD測(cè)試設(shè)備

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詳細(xì)介紹

日本Hanwa-HED-G5000全自動(dòng)HBM/MM/Latch-up測(cè)試機(jī)、HANWA ESD測(cè)試機(jī)

全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品概要：

HANWA新一代G5000系列ESD 全自動(dòng)靜電破壞檢測(cè)機(jī)已上市，搭載多Pin腳無(wú)繼電器的GND模組（最高支持MAX2048pin），全不受寄生電容的影響，實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè)。此設(shè)備是符合日本及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的高可靠性設(shè)備（滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可用于閂鎖測(cè)試，并適用脈沖電流法·電源過(guò)電壓·ESD脈沖印加法。汽車電子AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)，車規(guī)級(jí)集成電路可靠性靜電HDM/CDM測(cè)試。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1、適應(yīng)以下國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)波形: JEDEC，ESDA，AEC和JEITA。
2、該系統(tǒng)特別的短路放電電路可通過(guò)其原始機(jī)械設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)。
3、短路最大限度地減少電感和電容對(duì)數(shù)據(jù)的影響。
4、使用單個(gè)電路可確保每個(gè)器件引腳的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備主要應(yīng)用：

芯片靜電破壞自動(dòng)測(cè)定裝置。