硅光探針臺

簡要描述：硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。
GP200擁有穩(wěn)定且可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。

產(chǎn)品型號：GP200SiPH
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-11-07
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探針臺系統(tǒng)

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詳細(xì)介紹

型號:GP200-SiPH

8英寸硅光測試手動探針臺

硅光探針臺應(yīng)用：GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測試與提取。

XY行程	快速定位行程：210mm×210mm；精調(diào)行程： 210mm×210mm ，精調(diào)分辨率：≤ 1.0 μm；驅(qū)動方式：手動
Z軸行程	10mm；驅(qū)動方式：手動
Theta旋轉(zhuǎn)	快速旋轉(zhuǎn)角度：360°；精調(diào)角度：±15°，精調(diào)分辨率：＜0.02°；驅(qū)動方式：手動
Chuck臺	尺寸:203mm(8inch) ；真空盤可調(diào)節(jié)高度：±5mm 真空快速切換開關(guān)，真空調(diào)節(jié)檔位：Center、2’、4’、8’ 安裝方式：真空盤與主體絕緣
臺面精度	平面度：＜10 μm
快速拉出結(jié)構(gòu)	行程：100mm

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