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GP200包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時間內準確地完成測試要求。提供專業的測試方案，能夠實現高品質的I-V、C-V、RF 等測試。

GP200SE 8英寸高低溫探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在最短時間內準確地完成測試要求。提供專業的測試方案，能夠實現高品質的I-V、C-V、RF 等測試。GP200SE擁有穩定且可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質量。優異的光學系統結合分辨率＜2μm的針座系統，確保扎針的穩定性。

硅光探針臺,GP200-SIP系列8英寸探針臺包含硅光芯片的DC&RF&OO測試所需的完整配置，在短時間內可準確地完成芯片的參數測試與提取。 GP200擁有穩定且可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質量。優異的光學系統結合分辨率＜2μm的針座系統，確保扎針的穩定性。

GP半自動探針臺，GP2000-SE 高低溫探針臺。機臺可輕松實現DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。可應用于I-V/C-V/P-IV測試、1/f噪聲測試、射頻/毫米波測試、功率測試、Load-Pull測試等。

大功率探針臺,GP300探針臺讓您的芯片測試更加簡單，機臺可輕松實現DC ~ THZ測量，提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。

進口探針臺,GP200探針臺包含DC~THZ測試所需的完整配置，能夠在短時間內準確地完成測試要求。 提供專業的測試方案，能夠實現高品質的I-V、C-V、RF 等測試。

8英寸手動探針臺,射頻探針臺,高壓探針臺,MPI 8英寸射頻高低溫手動探針臺具有ShielDEnvironment™的MPI TS200-SE探針系統可提供最大的EMI屏蔽，并允許進行低噪聲的器件在片測量，從而可廣泛用于各種應用，例如器件表征和建模，RF /微波，晶片級可靠性，故障分析，設計驗證，和大功率。

高壓探針臺通過TS2000-DP，MPI提供了一個多功能且經濟高效的探針臺，半自動|MPI 8英寸高壓探針臺適用于20°C至300°C溫度范圍內的晶圓上高功率器件測量，測量能力高達3 kV（三軸）/ 10 kV（同軸）和600 A（脈沖）。